- Отчёт
- 344648.1
- Дата
- 11 мая 2026
- Партия
- 100 шт.
Партия поступила в отрезной ленте без надлежащей ESD-упаковки; результат приёмки в отчёте указан как приемлемый.
Каталог электронных компонентов
| MPN | Производитель | Категория | Корпус | Количество на складе | Условия | Действие |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Платы оценки датчиков 24 на этой странице | ||||||
| OM11076 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OM11078 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OM13257,598 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OM40004UL | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT3001EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT3002EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT3004DTSEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT3004EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT3005DTSEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT4001DNPQ1EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT4001DTSEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT4001YMNEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT4048DTSEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT4060DTSEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| OPT8241-CDK-EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L0A1 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L1A1 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L1A2 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L3A2 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L4A1- | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L4A2- | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L5A1 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L7A1 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| P-NUCLEO-53L8A1 | STMicroelectronics | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
Карточки из официальной локальной базы продукции.
Основные категории с русскими названиями.
Выбранные бренды официального каталога.
Остатки и расчётные цены не публикуются.
Сводка составлена по трём отчётам внешней лаборатории White Horse Laboratories. Она относится только к указанным партиям и объёму выполненного плана, а не ко всему каталогу или будущим поставкам.
Фактически выполнено: проверка документации и упаковки, общий контроль и внешний визуальный осмотр. X-Ray, XRF, SAM и разрушающие исследования в этих отчётах не проводились.
Запросить копию отчёта →Партия поступила в отрезной ленте без надлежащей ESD-упаковки; результат приёмки в отчёте указан как приемлемый.
Следов перемаркировки, доработки или предыдущего использования на проверенных образцах не обнаружено.
Осмотр выводов: 99 шт. приемлемы, 1 шт. неприемлема; общий вывод отчёта остаётся приемлемым.
Группировка следует инженерному сценарию выбора. Количество относится только к текущей локальной выборке, а не к складу.
Компактная зона быстрого перехода по текущей странице каталога без рекламных цен, остатков и искусственной срочности.
Зафиксируйте точный MPN, производителя, количество и критичные требования в RFQ.