- Отчёт
- 344648.1
- Дата
- 11 мая 2026
- Партия
- 100 шт.
Партия поступила в отрезной ленте без надлежащей ESD-упаковки; результат приёмки в отчёте указан как приемлемый.
Мы используем необходимые cookie-файлы, чтобы сайт корректно работал, сохранял ваши настройки и обрабатывал RFQ. Нажмите «Принять и продолжить», чтобы пользоваться сайтом.
Каталог электронных компонентов
Показано на странице: 24
| MPN | Производитель | Категория | Корпус | Количество на складе | Условия | Действие |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Платы оценки датчиков 24 на этой странице | ||||||
| LDC1314KEYPAD-EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LDC1612EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LDC1614EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LF-9MT024NV-EVN | Lattice Semiconductor | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LF-PNV-EVN | Lattice Semiconductor | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB3110 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB7361 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB7455 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB7660 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB8450 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB845X | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB8491 | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LFSTBEB865X | NXP | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM20C-EVAL | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM20S-EVAL | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM20XEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26EVAL-TPA | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26EVAL-XPA | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26EVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26LVEB | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26LVEB/NOPB | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26LVEB/NOPB OPB | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM26LVEVM | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
| LM32EVAL | Texas Instruments | Платы оценки датчиков | Уточняется | — шт. | По запросу | |
Карточки из официальной локальной базы продукции.
Основные категории с русскими названиями.
Выбранные бренды официального каталога.
Остатки и расчётные цены не публикуются.
Сводка составлена по трём отчётам внешней лаборатории White Horse Laboratories. Она относится только к указанным партиям и объёму выполненного плана, а не ко всему каталогу или будущим поставкам.
Фактически выполнено: проверка документации и упаковки, общий контроль и внешний визуальный осмотр. X-Ray, XRF, SAM и разрушающие исследования в этих отчётах не проводились.
Запросить копию отчёта →Партия поступила в отрезной ленте без надлежащей ESD-упаковки; результат приёмки в отчёте указан как приемлемый.
Следов перемаркировки, доработки или предыдущего использования на проверенных образцах не обнаружено.
Осмотр выводов: 99 шт. приемлемы, 1 шт. неприемлема; общий вывод отчёта остаётся приемлемым.
Группировка следует инженерному сценарию выбора. Количество относится только к текущей локальной выборке, а не к складу.
Компактная зона быстрого перехода по текущей странице каталога без рекламных цен, остатков и искусственной срочности.
Зафиксируйте точный MPN, производителя, количество и критичные требования в RFQ.
Напишите вопрос по MPN, сроку или RFQ. Автоответ появится сразу, ответ оператора — позже в этом окне.
Диалог ещё не начат.